ウェハ検査 電極形成 平坦化(CMP) 酸化・拡散・CVD・イオン注入 エッチング ウェハ表面にパターン形成 フォトレジスト塗布 ウェハの酸化
次は前工程に入ります。
前工程とは、ウェハ上に製造するICチップ(数100~1,000個)の中身を形成する工程の総称をいいます。
最近の半導体デバイスは、小さな四角いスペースに数十億個のトランジスタを集積しています。高集積化は微細化により実現するため、前工程では最先端の微細化技術が求められています。
設計工程で設計した回路パターンを転写するために、ウェハに酸化膜を形成します。


高温(900~1,000℃)の拡散炉で、ウェハを酸化性雰囲気にさらし、表面に酸化膜を成長させます。

回路パターンを転写するために、フォトレジストという感光剤をウェハの表面上に塗布します。


スピンコーターとよばれる高速回転装置で、フォトレジストを薄く均一に塗布し、感光しやすいようにします。
回路が描かれているフォトマスクを介して、パターンをウェハの表面に転写します。


ステッパーとよばれる露光機を使用して、写真を焼付ける原理でパターンを形成します。


これは、微細化技術の中心工程の一つです。
露光した後で、不要な酸化膜を取り除くことをエッチングといいます。


エッチングは「極細の穴を深く掘る」イメージの工程で、化学・物理反応を活用します。


プラズマは あまり見ないほうが良いらしいです。
髪の毛の1 /2,000のサイズで穴を掘るため、微細化技術で最も難易度が高い工程の一つといわれています。
エッチング処理後、トランジスタなどの半導体素子を形成するために、シリコン酸化膜形成、不純物注入(イオン注入機)などの処理を行います。


イオン注入や高温拡散処理を行うと、シリコンが露出している部分が半導体になります。
ウェハの表面を研磨して、パターンのデコボコを平坦にします。


フォトレジスト塗布からCMP(Chemical Mechanical Polishing)までの工程を繰り返し、トランジスタなどの素子を作ります。
ウェハ表面に、電極配線用のアルミ金属膜を作ります。


プラズマガスでアルミターゲットをスパッタリング(物理反応での成膜)して、アルミ金属膜を形成します。
ウェハ上にできたICチップは、テスターとよばれる装置を使ってチップごとに検査し、良品・不良品を分けます。


不良品にはマークを付けて、識別できるようにします。